XRD定量分析原理
XRD通常是指X射线衍射。利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等。X射线是波长非常短的一种电磁波，可以让荧光物质发光还能穿透物质。X射线衍射应用很广泛，是一种十分重要的结构分析手段和实验方法。XRD定量分析方法主要有：直接比较法、联立方程法、类标法、外标法、单线条法、K值法和绝热法这7种定量分析方法。今天微谱就给大家说一说外标法和内标法以及K值法和绝热法。
xrd定量分析方法
1.外标法：标准物质没有加到待测试样中的，而且一般情况下以某纯待测物项为标样，再制成一系列的外标试样，继而绘测出工作曲线从而进行定量相分析，这种方法就叫做外标法。外标法的缺点是当强度不同的时候进行测量，会影响到测量的准确度。优点就是待测样中不会混入标准物质。
2.内标法：在含有多项物质的待测试样中加入恒定重量的内标物质来进行定量向分析的方法就叫做内标法。用内标法时的一大难点就是内标物本身在样品中的均匀性，适当的延长对内标物的研磨时间，对于提高样品均匀性是有利的。
3.K值法：用K值法进行定量相分析***先要做的就是求出K值。求K值有三种方法。**种，用计算法求。第二种实测K值，第三种查检索手册。
4.绝热法：在进行定量向分析时，不会与系统以外发生关系。不需要像试样中加入内标物质，既适用于整体试样，也适用于粉末试样。但是不可以测定含有未知相的多相混合式样。
XRD主要是用在鉴别高聚物的晶态和非晶态，借助数据或者标准图谱确定晶型，晶粒大小以及测定结晶度和精密测定点阵参数。而结晶度的定义是结晶部分的重量与总试样重量两者的百分比。精密测定点阵参数一般用来测定相图的固定溶解度曲线。
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